光譜 |
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傳感器 | CMOS 線性傳感器 |
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光譜波長范圍 | 380 to 780 nm |
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波長資料間隔 | 1 nm |
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光譜波寬 | 約12 nm （半波寬） |
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量測區(qū)域 | ?10 mm |
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受光角度 | ±1° |
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波長再現(xiàn)性 | ± 1 nm |
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量測范圍 | 0.001 to 5000 cd/m2 |
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亮度*1*2 | 測量范圍 | 0.05~5000 cd/m2 |
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精度 | ±2% 100 to 5000 cd/m2 ±3% 0.2 to 100 cd/m2 ±4% 0.05 to 0.2 cd/m2 |
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重復性 (2σ) *3 | 0.2% 100 to 5000 cd/m2 0.5% 0.2 to 100 cd/m2 0.8% 0.05 to 0.2 cd/m2 |
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色度*1*2 | 測量范圍 | 0.05~5000 cd/m2 |
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精度 | ±0.002 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2 ±0.003 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2 ±0.005 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2 |
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| 重復性 (2σ) *3 | 0.0005 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2 0.001 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2 0.002 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2 |
雜散光 | -25 dB max *4 |
偏極化誤差 | <2% |
積分時間 | 100us to 5000 ms （快速模式/一般模式） |
數(shù)位分辨率 | 16 bits |
頻閃 |
測量范圍 | 5 to 5000cd/m2 |
取樣速度 | 100k sample/sec (adjustable) |
對比度 | 精度 | ±1%（30Hz AC/DC 10% 正弦波） |
±2%（60Hz AC/DC 10% 正弦波） |
重復性 | 1%（20 to 65 Hz AC/DC 10% 正弦波） |
JEITA | 精度 | ±0.5dB（30Hz AC/DC 10% 正弦波） |
重復性 | 0.3dB（30 Hz AC/DC 10% 正弦波） |
特點 |
量測功能 | 單次 / 連續(xù) |
操作模式 | RS232 模式 / USB 模式（PC 連接） |
積分時間 | 自動 / 手動 |
暗校正 | 自動 |
光譜量測項目 | 1. 亮度（cd/m2） |
2. 相關色溫（CCT） |
3. C.I.E 色度坐標圖 (1) CIE 1931 2-degree, 10-degree x,y Coordinates (2) CIE 1976 2-degree, 10-degree u＇,v＇ Coordinates (3) CIE 1931 XYZ Value |
4. △x , △y , △u＇ , △v＇ |
5. Delta uv（Duv） |
6. 主波長（λd） |
7. 色純度（Excitation Purity） |
8. 演色指數(shù)（CRI, Ra）/ R1 to R15 |
9. 光譜功率分布（SPD）mW/m2 |
10. 峰值波長（λp） |
11. 峰值強度（λpV） |
12. 積分時間（I-Time） |
13. 暗明視覺比（S/P） |
頻閃量測項目 | 1. Max / Min, Average, RMS and Frequency |
| 2. JEITA |
| 3. VESA |
| 4. 頻閃百分比（Percent Flicker） |
| 5. 頻閃指數(shù)（Flicker Index） |
系統(tǒng)配置 |
電源 | 變壓器5V, 1.0A |
接口 | RS232 ; USB 2.0 |
尺寸 | 204 x 90 x 45 mm （長x 寬x 高） |
重量 | 630 g ± 10 g |
操作溫度/ 濕度 | 0 to 35 ℃，相對濕度70％或以下，無冷凝 |
儲存溫度/ 濕度 | -10 to 40 ℃，相對濕度70％或以下，無冷凝 |
軟件 | SDK Solution ( Windows platform ), uSPECTRUM, uFLICKER |
*1：在標準光源下(2856K、6500K & 9300K)進行亮度及色度測試。 *2：在溫度23±2℃，相對濕度50%以下進行亮度及色度測試。 *3：在快門長開的狀態(tài)下，進行重復性測試。 *4：使用550nm單頻光輸入與量測550nm±40nm位置的量測比例值。 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
