2991系列單晶材料X射線晶片定向儀
價 格：詢價
產 地：日本更新時間：2020-10-22 08:54
品 牌：Rigaku型 號：2991系列
狀 態：正常點擊量：2472
400-006-7520
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半導體評價測定系列
·晶體、半導體材料的方位測定；
·精度高、使用壽命長；
·豐富多彩的附件。
產品參數
主要規格：
X射線發生器：30KV-5mA（max） Cu；
檢測器：SC；
測角精度：±30s（2991F2） ±0.01°（2991G1）；
角度表示：數字表示（度、分、秒）；
入射狹縫：0.05 0.1 0.2mm 3種；
樣品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射線防護罩：（option）。
產品介紹
應用范圍：
晶片的偏差角測定；
半導體Wafer的方位測定；
晶體Ingod的切割面測定；
各種半導體材料的方位測定；
Orientation-Flat的測定。
滬公網安備31011502016460號
