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二次質譜儀（SIMS）是***前沿的表面分析技術。確立于40多年前，它揭示了極表面

和近表面的原子層的化學組成。這種信息遠遠超過了為鑒定有機組成部分的分子結

構所需的簡單元素分析。

應用：

單分子層水平表面信息　　薄膜縱剖面分析

所有元素檢測　　　　　　有機物質鑒定

表面污染鑒定 高靈敏度分析　　　　　　

快速化學組分成像等表面分析領域

SIMS一個主要的特征是對表面（固定SIMS）的固定區(qū)域的原位分析。掃描聚焦探測

光束（影像SIMS）生成一個表面成分圖僅需幾秒鐘（而不是幾分鐘）。延展的分析

通過深度刻蝕表面而顯示表層下面變化的組成（動態(tài)SIMS）。所有這些能在只需少

量而不需任何樣品準備的情形下操作成功，并且具有高靈敏度，同時可使分析時間

降至最短。

Millbrook MiniSIMS是在一個緊湊的半開式可移動儀器中開發(fā)的SIMS功能技術。

僅需一個標準的主電源以供操作，放置極為方便。完全的計算機控制使得操作簡

便，并且自動獲得數(shù)據(jù)。通過英特網(wǎng)的遠距離控制使您使用SIMS更為方便。

MiniSIMS使得室內表面分析儀器，在很大范圍的情形下成為一種操作簡便經(jīng)濟實

用的方式，低成本的資金和維護費用以及高的樣品產(chǎn)出，意味著每個樣品的總費用

要比使用傳統(tǒng)的SIMS儀器減少90%