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比表面儀、比表面及孔結構分析儀
JW-K型氮吸附比表面積及孔徑分布分析儀
價 格：詢價
產 地：北京更新時間：2020-10-26 14:03
品 牌：精微高博型 號：JW-K型
狀 態：正常點擊量：2035
400-006-7520
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上海自提或三方快遞
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產品參數
主機功能：
（1）吸（脫）附等溫曲線測定
（2）孔徑分布測定
（3）BET比表面測定，并可測定吸附常數C 值
（4）比表面快速測定（直接對比法）
測定范圍：（1）孔徑：2nm～200nm （2）比表面：0.1~3500㎡/g
測量原理：動態常壓連續氮吸附法（國內首創）
氣體： 高純氮（99.99%）、高純氦（99.99%）
氣體流量：≤100mL/min
流量控制：穩壓穩流系統，高精度流量傳感器，數字顯示，顯示精度0.1%
測量壓力：常壓
氮氣相對壓力：調節范圍 0.05-0.98
測量重復精度：≤±3%
測試時間：
（1）BET比表面：平均每個樣品30分鐘
（2）孔徑分布：平均每個樣品3～4小時
（3）數據采集：恒流電路，氣體濃度傳感器工作站，放大及濾除雜波系統，采集速度100次/秒。
產品介紹
JW-K是基于連續動態氮吸附法，經長期研究解決了動態法測試技術的瓶頸，實現了動態法中孔范圍孔徑分布的精確測定。該產品在***內尚屬***創，極大推動了動態法技術的發展和完善。孔徑分布測定原理是依據***際上公認的毛細凝聚理論。
滬公網安備31011502016460號
